Контроль качества рассеивателей

В первую очередь необходимо убедиться в том, что полученный рассеиватель соответствует чертежу, по которому он изготовлялся.

Разберем некоторые особенности чертежей этого изделия сложного по форме и числу элементов, связанных как собственными размерами, так и размерами, обусловливающими их взаимное расположение. Несмотря на то что соединение отражателя с рассеивателем происходит через его опорную поверхность, ее не применяют в качестве базы для расстановки размеров микроэлементов, определяющих светораспределение. Общей базой для опорной поверхности и микроэлементов являются ось и центр сферической несущей поверхности. Для обнаружения ошибок расчета и возможности корректирования чертежа опытного образца рассеивателя, если фотометрирование покажет такую необходимость, размеры, выставленные на чертеже, должны иметь самую непосредственную связь с полученными в результате расчета.

В настоящее время применяются два способа расстановки размеров, заметно отличающихся друг от друга.

Первый способ иллюстрируется рис. 3-27, на котором показана часть чертежа рассеивателя одной из фар. Размеры микроэлементов привязаны к несущему слою, который разрезается рядом сечений, проходящих через

измеряемые микроэлементы. Сечения в отличие от обычного производятся плоскостями, проходящими через центр несущего слоя. Поскольку в одно и то же сечение могут попадать различные по форме и размерам микроэлементы, каждая - их группа обозначается соответствующей римской цифрой, позволяющей вынести эти размеры в соответствующую таблицу.

Второй способ расстановки размеров показан на рис. 3-28. Чертеж содержит лишь основные конструктивные размеры, разбивку площади выходного отверстия на участки с разными микроэлементами и их нумерацию. Размеры микроэлементов, вынесенных в отдельные чертежи, не приводятся. Размеры даются относительно оси и центра несущего слоя, непосредственно такими, как они получаются из расчетов.

Контроль соответствия опытного образца рассеивателя своему чертежу по первому способу может быть выполнен на описанном ранее координатном приборе для измерения сложных пространственных деталей. Для получения размеров, соответствующих чертежу, и определения базы отсчета в каждом случае необходимо закладывать в ЭВМ, входящую в комплект прибора, новые программы.

Второй способ контроля заключается в разрезании готового рассеивателя алмазом по тем сечениям, которые предусмотрены чертежом с последующим измерением полученного профиля на универсальном инструментальном микроскопе.

По третьему способу контроль производится измерением отклонения узкого луча, падающего на данный микроэлемент рассеивателя. Сопоставление измеренного отклонения с расчетным позволяет определить ошибки профиля и положения линз и призм различных участков рассеивателя.

Проверка создаваемого рассеивателем светораспределения производится фотометрированием совместно с отражателем, с которым этот рассеиватель должен работать; при этом должна использоваться эталонная лампа. Очевидно, что можно ожидать получения от опытного образца оптического элемента требуемого светораспределения лишь в том случае, если отражатель с эталонной лампой обеспечивают получение того светораспределения, которое было принято за основу при расчете рассеивателя.

• < Качественные способы контроля поверхностей отражателей
• Производство стеклянных отражателей и рассеивателей >