Качественные способы контроля поверхностей отражателей
Качество оптического элемента определяется в первую очередь качеством отражателя, т.е. точностью параболоидной поверхности отражающего зеркального слоя;
- коэффициентом отражения и степенью зеркальности отражающего слоя;
- точностью посадочного места для цоколя лампы.
Качественные оценки параболоидальности готового отражателя можно разделить на две группы: к первой относятся методы, основанные на оценке наблюдаемых на параболоидальной поверхности отражателя изображений; ко второй — на оценке световых пятен, создаваемых отражателем при использовании в нем соответствующего источника света.
К первой группе относится метод сетки Чиколева, состоящий в рассматривании изображения в отражателе регулярной сетки, нанесенной на полупрозрачный или даже непрозрачный экран. Отражение сетки рассматривается через отверстие в центре экрана. Для длиннофокусных прожекторных отражателей малой глубины экран может быть плоским и располагаться параллельно выходному отверстию. Для короткофокусных и глубоких фарных отражателей плоский экран заменяется цилиндрическим стержнем, на котором нанесена хорошо видимая невооруженным глазом сетка, состоящая из рисок вдоль образующих цилиндра и кольцевых рисок перпендикулярно к ним. Стержень отцентрирован на фланце, имитирующем цоколь используемой в отражателе лампы; при установке этого фланца в патрон отражателя стержень должен быть соосным с отражателем. Качество отражателя характеризуется правильностью изображения рисок, отраженных поверхностью отражателя. В хорошем отражателе продольные риски должны давать прямолинейные изображения, идущие вдоль образующих параболоида, а кольцевые риски — кольцевые же изображения, без волнистости или изменений расстояния между ними. Искривление линии свидетельствует о нарушении геометрии параболоида. Утолщение линий вызывается местными выпуклостями, сужение— впадинами поверхности параболоида. Общее искривление изображения продольных рисок, в котором часть рисок имеет кривизну одного направления, а другая часть — другого, свидетельствует о перекосе патрона лампы. Такому перекосу соответствует также одновременно одинаковое для всех поперечных рисок искривление.
К методам второй группы относятся фотографирование или рассмотрение светового пятна, создаваемого отражателем на малом расстоянии.
В качестве источника света целесообразно использовать лампу накаливания с малогабаритной нитью. Для установки в фокус отражателя лампу, смонтированную на каком-либо штативе и вынесенную достаточно вперед, вводят в отражатель через его слепое отверстие. Затем перемещением лампы добиваются такого положения относительно отражателя, при котором световое пятно на матовом или молочном полупрозрачном экране, установленном на расстоянии 1 —1,5 м от отражателя перпендикулярно его оси, получает достаточно круглую форму и минимальные размеры. На рис. 3-29 в качестве примера приведены фотографии таких световых пятен. Темные клинья представляют собой изображения ножек лампы и к отражателю отношения не имеют. Пятно на рис. 3-29,а с характерными концентрическими окружностями, ограничивающими зоны разной яркости, соответствует хорошему отражателю; пятно на рис. 3-29,6 с резкими радиальными бликами относится к отражателю, у которого наряду с искажением параболоидальности имеет место поперечная волнистость, приводящая к бликам и даже к размытости изображения ножек лампы.
Усовершенствование метода светового пятна осуществлено на заводе «Красный Октябрь». Для анализа светового пятна, получаемого на экране на небольшом расстоянии от отражателя, между экраном и отражателем устанавливается диск с рядом отверстий, расположенных по архимедовой спирали вокруг центра, совпадающего с осью отражателя. Второй диск, соосный с первым, Имеющий радиальную прорезь, позволяет выделить для рассмотрения на экране световое пятно, создаваемое светом, проходящим через одно из отверстий первого диска.
Анализ расположения получаемых световых пятен позволяет произвести оценку правильности всех элементов поверхности отражателя.
В связи с развитием приборостроения на базе электронной и вычислительной техники описанные выше качественные методы контроля, широко применявшиеся ранее, потеряли свое основное преимущество — быстроту и наглядность контроля и практически вышли из употребления, уступив место современным количественным методам измерений.
Lorem Ipsum has been the industry's standard dummy text ever since the 1500s...